**薄膜测厚仪

CHY-U型
**薄膜测厚仪
薄膜测厚仪价格优惠**中!
薄膜测厚仪关键词:GB/T 6672、GB/T 451.3、测厚仪、薄膜测厚仪、**测厚仪、机械接触测厚仪
 
薄膜测厚仪应用范围
适用于2mm范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。
薄膜测厚仪技术特征
1.微电脑控制、液晶显示
2.接触式测量原理
3.测量头自动升降
4.智能化操作,实现自动进样5.手动、自动双重测量模式
6.数据实时显示、自动统计
7.显示较大值、较小值、平均值
8.微型打印机,实时输出结果
薄膜测厚仪技术参数
1.测量范围:0~2mm
2.分 辨 率:0.1μm
3.测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
4.接触面积:50mm2(薄膜),200mm2(纸张)
5.进样步距:0~1000mm
6.进样速度:0.1~99.9mm/s
7.电    源:AC 220V 50Hz
8.外形尺寸:460mm×350mm×365mm
薄膜测厚仪配置
标准配置:主机、标准量块一件
选用配置:**软件、通信电缆、测量头、配重砝码
 

 

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